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產(chǎn)品詳細頁MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺
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- 更新日期:2023-03-20
- 產(chǎn)品介紹:MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺,可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力,用戶EBSD分析,或者對一些其他材料進行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜,為EBSD分析提供了的設(shè)置。
- 廠商性質(zhì):代理商
產(chǎn)品介紹
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保 |
MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺
----用于EBSD的材料測試系統(tǒng)
品牌: GATAN | 名稱型號: MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺 |
制造商: GATAN公司 | 經(jīng)銷商:歐波同有限公司 |
產(chǎn)品綜合介紹:
產(chǎn)品功能介紹
掃描電鏡中的材料允許我們在微結(jié)構(gòu)層級進行動態(tài)的機械特性研究。當同時裝備EBSD設(shè)備,可以通過對晶體的結(jié)構(gòu)的分析,,實時研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
MICROTEST 2000E系列拉伸臺設(shè)計可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力,用戶EBSD分析,或者對一些其他材料進行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜,為EBSD分析提供了的設(shè)置。
MICROTEST 2000E系列拉伸臺可直接安裝在一些SEM的標準樣品臺上,或者在某些情況下可能需要C1000XYX替換樣品臺。該樣品臺頁可以在電子顯微鏡之外使用。
MICROTEST 2000E可以在拉伸或者壓縮模式下工作。配備的功能豐富的軟件能夠進行恒速、恒載荷或低頻循環(huán)操作,以其他功能,例如按斜坡達到預(yù)設(shè)載荷。應(yīng)力應(yīng)變曲線可以在顯示器上實時圖形繪制,圖形顯示帶有特性游標,可選多量程和縮放功能。MTVideo選項同步視頻和數(shù)據(jù)采集,從而允許隨后對變形樣品的視頻進行詳細分析。
對于可變溫度研究。可以在MICROTEST 2000EW(水冷版本)平臺上EBSD的幾何位置上選配加熱夾具,加熱夾具的溫度可高達500℃。
品牌介紹
美國GATAN公司成立于1964年并于70年代末進入中國市場。GATAN公司以其產(chǎn)品的高性能及技術(shù)的先進性在電鏡界享有*聲譽。
作為設(shè)計和制造用于增強和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商,其產(chǎn)品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產(chǎn)品應(yīng)用范圍包括材料科學(xué)、生命科學(xué)、地球物理學(xué)、電子學(xué),能源科學(xué)等領(lǐng)域, 客戶范圍涵蓋的科研院所,高校,各類檢測機構(gòu)及大型工業(yè)企業(yè)實驗室,并且在科學(xué)研究領(lǐng)域得到了廣泛認同。
經(jīng)銷商介紹
歐波同有限公司是微納米技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商,是一家以外資企業(yè)作為投資背景的高新技術(shù)qi業(yè),總部位于香港,分別在北京、上海、遼寧、山東等地設(shè)有分公司和辦事處。作為電子顯微鏡、GATAN掃描電子顯微鏡制樣設(shè)備及附屬分析設(shè)備在中國地區(qū)重要的戰(zhàn)略合作伙伴,公司秉承“打造國內(nèi)影響力的儀器銷售品牌”的經(jīng)營理念,與,GATAN品牌強強聯(lián)合,正在為數(shù)以萬計的中國用戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品與技術(shù)服務(wù)。
產(chǎn)品主要技術(shù)特點:
1、載荷:2000N測力傳感器,精度1%量程,解析能力0.1%量程
2、長度和拉伸量:夾具間距:10mm,伸長量:10mm,線性延伸計:3μm解析能力和10μm精度
3、速度范圍:0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、較大樣品尺寸:29×27×5(L,W,Hmm)對EBSD樣品夾具
5、產(chǎn)品規(guī)格:196 ×96×53(L,W,Hmm)重量~3.4kg(2000ES);~3.9kg(2000EW)
MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺
----用于EBSD的材料測試系統(tǒng)
產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域:
1、 金屬與合金:研究與應(yīng)力-應(yīng)變分析相關(guān)的晶粒的晶體學(xué)旋轉(zhuǎn)。
缺陷的演變和應(yīng)變的積累;
加熱樣品,研究再結(jié)晶
2、其他(非晶)材料:在SEM中動態(tài)研究微裂紋擴展及在微觀尺度上其他失效和變形機制;
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